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      • SLJ-1雙棱鏡干涉實驗儀
        SLJ-1雙棱鏡干涉實驗儀

        SLJ-1雙棱鏡干涉實驗儀$n導軌:鋁制導軌,長1000mm$n光源:半導體激光器,鈉燈或白光光源可選$n狹縫:0-2mm可調,帶二維調節$n測微目鏡:放大率15倍,測量范圍8cm$n像屏:白色像屏

        時間:2023-10-07型號:SLJ-1
      • WPZ-III塞曼效應實驗儀(智能型)
        WPZ-III塞曼效應實驗儀(智能型)

        WPZ-III塞曼效應實驗儀(智能型) 1、永磁鐵 磁感應強度B>1.0T,以實際測定為準 2、F-P標準具 通光口徑φ40mm 空氣隙石英間隙2 mm 中心波長546.1nm. 分辨能力λ/ dλ≥2&#215;105 高反射帶寬100nm 3、干涉濾光片 中心波長546.1 nm 透射帶寬≤10 nm 峰值透過率≥55%

        時間:2023-10-07型號:WPZ-III
      • WGZ-IIA光強分布測定儀
        WGZ-IIA光強分布測定儀

        WGZ-IIA光強分布測定儀 單縫、單絲、雙縫、多縫等衍射、干涉圖形的一維光強分布測定;小孔、小屏、矩孔、雙孔、光柵和正交光柵等的衍射、干涉現象演示實驗;偏振光實驗光強變化的測定;驗證馬呂斯定律.1.導軌長度:1000mm .2.半導體激光器:配置精密二維調整架,波長635nm,功率3mv.

        時間:2023-10-07型號:WGZ-IIA
      • JCD3讀數顯微鏡
        JCD3讀數顯微鏡

        JCD3讀數顯微鏡$n產品簡介$n可作長度測量,也可作觀察使用??芍盟胶痛怪蔽恢?,能搭成各種測試裝置。$n產品配置$n主要技術指標要求:1、顯微鏡放大倍率為30倍,工作距離54.06mm,視場直徑4.8mm;2、測量范圍:縱向50mm,ZUI小讀數0.01mm,升降方向40mm,ZUI小讀數0.01mm;

        時間:2023-10-07型號:JCD3
      • WSM100/200邁克爾遜干涉儀
        WSM100/200邁克爾遜干涉儀

        WSM100/200邁克爾遜干涉儀 產品簡介 觀察光的干涉現象(等厚條紋、等傾條紋、白光彩色條紋),測定單色光波長,測定光源和濾光片相干長度、配法布里─珀羅系統觀察多光束干涉現象 產品配置 1、移動鏡行程:WSM─100型 100mm WSM─200型 200mm 2、微動手輪分度值: 0.0001mm

        時間:2023-10-07型號:WSM100/200
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